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1 Experimental Study on Mitigation of Lifetime-Limiting Dielectric Cracking in Extreme Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits [科技报告]

作者:Spry, D J, Neudeck, P G, Chang, Carl W

发布日期:2019

关键词:DIELECTRICS;JFET;...

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2 Blind Study Validating Parametric Costing Tools PRICE True Planning and SEER-H for NASA Science Missions [科技报告]

作者:Friz, Paul D;Klovstad, Jordan J;Leser, Benjamin B;等

发布日期:2019

关键词:COST ANALYSIS;DESIGN ANALYSIS;...

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3 Room Temperature Radiation Testing of a 500 °C Durable 4H-SiC JFET Integrated Circuit Technology [科技报告]

作者:Lauenstein, Jean-Marie;Neudeck, Philip G;Ryder, Kaitlyn L;等

发布日期:2019

关键词:INTEGRATED CIRCUITS;HIGH TEMPERATURE ENVIRONMENTS;...

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4 Experimental Study on Mitigation of Lifetime-Limiting Dielectric Cracking in Extreme Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits [科技报告]

作者:Spry, David J, Neudeck, Philip G, Chang, Carl W

发布日期:2019

关键词:AEROSPACE SYSTEMS;AUTOMOBILES;...

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5 Technical Primer on Design and SPICE Modeling of Circuits for NASA Glenn SiC JFET IC Version 12 Prototype Wafer Run Part 1: SiC JFET Behavior and SPICE Modeling [科技报告]

作者:Neudeck, Philip G

发布日期:2019

关键词:CIRCUITS;FABRICATION;...

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6 Integrated Circuit (IC) Chip with a Self-Contained Fluid Sensor and Method of Making the Chip [科技报告]

作者:Manos, George InventorBalvin, Manuel A InventorCallahan, Michael P Inventor

发布日期:2019

关键词:INTEGRATED CIRCUITS;CHIPS;...

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